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詳細說明
系統概述：
IGBT作為目前主流的電力半導體開關器件，已廣泛應用于電力電子相關行業，一臺輕巧便攜的測試儀就顯得尤為重要。便攜式IGBT測試儀，是一種全新的功率半導體器件參數測試儀器，可用于額定電流在2-100A的IGBT和MOS管主要靜態參數的測試。儀器與配套電腦連接使用，通過友好人機界面操作，便于各測試參數的組合、數據結果以表格形式呈現，具有使用便捷、測試精度高等優點，適合于各測試器件使用現場及產線維護場合使用。
測試范圍：
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柵極 發射極 |
Vges：1-40V 分辨率0.1V Iges：0.1-10uA 分辨率0.01uA Vce：0V |
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集電極 發射極 |
Vces：100-3000V 分辨率10V Ices：100uA-5mA 分辨率10uA |
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柵極發射極閾值電壓 |
Vge(th)：1-10V 分辨率 0.1V |
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集電極/發射極 飽和電壓 |
Vce(sat)：0.2-5V 分辨率0.01V Ice：10-100A 分辨率1A |
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二極管 壓降 |
VF：0.01-5V 分辨率0.01V IF：1-100A 分辨率r 1A Vge：0V Vces：100 |
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二極管反向最大可恢復直流電壓 |
Vces：100-3000V 分辨率10V Ices：100uA-5mA 分辨率10uA |
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