11月15日-17日，一年一度的行業(yè)盛會--第十三屆中國國際半導體照明論壇（SSLCHINA 2016）在北京國際會議中心召開。17日，SSLCHINA的經(jīng)典分會--“可靠性與熱管理技術(shù)”專題分會由武漢大學動力與機械學院院長、教授劉勝與飛利浦首席可靠性工程師陶國橋共同擔任分會主席并擔任嘉賓主持人。
會上，來自桂林電子科技大學機電工程學院院長、教授楊道國分享了“LED燈具壽命預測的快速評價方法”主題報告。
報告中指出，LED與傳統(tǒng)的光源相比有許多優(yōu)勢，如照明效率高、節(jié)能、壽命長，因此越來越引起人們的關(guān)注。然而，在目前的產(chǎn)品中，70%以上的輸入點能量轉(zhuǎn)換成了熱能。
由于接合溫度高，LED產(chǎn)品存在許多問題，比如量子效率低，光譜移位，色移，甚至壽命縮短。LED產(chǎn)品的熱可靠性也令人擔憂。在過去的十年間，盡管對LED的封裝和模塊進行了很多研究，但是測量和預測系統(tǒng)級的LED燈的壽命仍然是一個挑戰(zhàn)。
為獲得高功率LED燈的壽命，楊道國教授在報告中，提出了基于子系統(tǒng)隔離法的LED燈的分級加載壓力加速測試，包括減低壓力加速衰變測試和增加壓力加速衰變測試。整個燈被分為三個子系統(tǒng)，即LED光源、驅(qū)動和機械設備。只對LED光源進行分級加載壓力加速測試，將其放入熱處理室中，與時效爐中的其它子系統(tǒng)相連。
因此，對于LED光源，可以實現(xiàn)最高可以施加的壓力水平。同時，在分級加載壓力加速測試之前，對LED燈模塊進行基于子系統(tǒng)隔離法的加速衰退測試，以實現(xiàn)理想的熱應力極限，在此范圍內(nèi)LED燈模塊的衰退機制是一致的。
而且，楊道國教授基于分級加載壓力加速測試分析了LED光源的可靠性，并且采用了失效樹和Monte Carlo算法推測整個LED燈的可靠性。
結(jié)果表明，LED光引擎的TSL能夠通過HADT程序輕松地觀察；也提出的分級加載壓力加速測試能夠快速有效地使LED燈模塊的性能產(chǎn)生退化；SUSADT光性能的提高要好于SDSADT，這是由于SDSADT能夠有效地降低LED燈的光參數(shù)的增長；而且，伴隨著增長的荷載應力，LED模塊的色移比光衰更靈敏。
最后，還提出了一套方法在快速評定LED燈方面具有很大的潛力。
