培訓時間：2017年11月21日星期二  下午

 

　　培訓地點：東莞市橫瀝鎮職教城東莞理工學校綜合樓一樓報告廳

　　主辦單位：

 

　　廣東金鑒檢測科技有限公司、全國LED產業產教融合(東莞)職業教育集團

 

　　講座內容簡介：

 

　　過去，當出現LED燒電極問題，質量爭議最多的是芯片和電源。芯片廠說是電源過流過壓導致，照明廠說是芯片質量不合格導致，但責任歸屬是需要證據的，在金鑒出來之前，業內缺乏LED芯片失效分析的實驗室，也就是說，沒有一家能夠找出芯片質量問題的檢測機構。沒有科學的檢測數據支持，照明廠和電源廠只能吃啞巴虧，造成很多冤案錯案。

 

　　在今年，金鑒檢測引進了千萬級的雙束聚焦離子束（FIB-SEM）顯微鏡，發現很多燒電極的案件與芯片關聯很大，開創了不少新的芯片級失效分析模型。于此，金鑒檢測方方博士開展此次講座，旨在分享案例和科普芯片級失效案例的判定方法。

 

　　客戶群體：

 

　　LED芯片廠、LED照明廠、LED電源廠、LED使用單位和采購貿易商

 

　　主講人：

　　方方，劍橋大學博士，廣東省青聯委員，廣東金鑒檢測科技有限公司總經理。方博士長期致力于LED材料檢測技術分析研究，擅長從查找材料缺陷角度改善LED產品質量。方博士在金鑒任職的多年時間里，累積了大量LED產業失效案例大數據，在此大數據的基礎上推出LED體檢技術研究，幫助客戶在來料、研發、生產中找出產品常見失效點，預防最終產品損失的產生，由常規的“客戶投訴--失效分析--改善”模式轉換為“發現隱患--改善”模式，大大降低企業經驗成本。其中金鑒的LED燈具體檢業務，從材料角度入手，快速評測原材料和工藝，鑒定LED燈具的質量，約為LED企業節約80%以上的檢驗檢測時間，節省檢驗認證費用達60%以上。方博士目前擁有20多項專利，40多篇LED檢測原創案例文章，每推出一篇文章都會被LED界各大媒體轉載，超過十萬名讀者閱讀與收藏，不定期推出LED檢測相關培訓，幫助廠家規避品質風險，促使LED行業健康發展。

 

　　活動安排

 

　　培訓時間：11 月21日星期二下午

 

　　2:00-3:30  講座培訓《如何科學分析LED芯片失效--LED燒電極，芯片與電源誰是罪魁禍首！》

 

　　3:30-3:50   茶歇

 

　　3:50-5:00   講座培訓《如何科學分析LED芯片失效--LED燒電極，芯片與電源誰是罪魁禍首！》

 

　　活動報名

 

　　職教集團聯系人：黃銀清

 

　　聯系電話：18122931209

 

　　電子郵件： CSAhn@china-led.net

 

　　活動負責人：邱岳

 

　　聯系電話：18816786100

 

　　電子郵件：2853308304@qq.com

　　聯系請掃我

 

　　講座報名登記方式：

 

　　用微信掃一掃識別圖中二維碼，添加金鑒檢測邱岳為好友，報名登記。

 

　　講座地址

　　地址：東莞市橫瀝鎮職教城東莞理工學校綜合樓一樓報告廳

 

　　交通指引：

 

　　自駕：東莞市橫瀝鎮職教城東莞理工學校（導航：職教城東莞理工學校）

 

　　附近公交：（職教城）6路（水邊工業區---西城區） 817路（汽車東站---橋頭車站）、 815路（東莞職教---東莞東火車站）