11月25-27日，由深圳市龍華區(qū)科技創(chuàng)新局特別支持，國(guó)家半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟（CSA）、第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟（CASA）主辦，深圳第三代半導(dǎo)體研究院與北京麥肯橋新材料生產(chǎn)力促進(jìn)中心有限公司共同承辦的第十六屆中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體照明論壇（SSLCHINA 2019）暨2019國(guó)際第三代半導(dǎo)體論壇（IFWS 2019）在深圳會(huì)展中心召開(kāi)。 

11月26日上午，“Micro-LED與其他新型顯示技術(shù)”分會(huì)如期召開(kāi)。本屆分會(huì)由山西中科潞安紫外光電科技有限公司、華燦光電股份有限公司、德國(guó)愛(ài)思強(qiáng)股份有限公司、北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司協(xié)辦。

法國(guó)原子能委員會(huì)電子與信息技術(shù)實(shí)驗(yàn)室研究主任Francois TEMPLIER，北京大學(xué)教授陳志忠，德國(guó)ALLOS Semiconductors首席技術(shù)官Atsushi NISHIKAWA，美國(guó)Lumiode, Inc.創(chuàng)立者兼總裁Vincent LEE，北方華創(chuàng)PVD事業(yè)部LED產(chǎn)品經(jīng)理郭冰亮，和蓮光電科技股份有限公司董事長(zhǎng)邰中和，南京大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院副院長(zhǎng)、教授劉斌，德國(guó)Instrument Systems optische Messtechnik GmbH的Tobias STEINEL等來(lái)自中外的強(qiáng)勢(shì)力量聯(lián)袂帶來(lái)精彩報(bào)告。   

   

德國(guó)Instrument Systems optische Messtechnik GmbH的Tobias STEINEL做了題為“用于μ-LED和OLED顯示器和晶圓的亞像素評(píng)估的成像光測(cè)量設(shè)備µ-LED市場(chǎng)預(yù)計(jì)將急劇增長(zhǎng)”的主題報(bào)告，分享了µ-LED / OLED顯示測(cè)試在生產(chǎn)中的挑戰(zhàn)，µ-LED晶圓測(cè)試在生產(chǎn)中的挑戰(zhàn)，顯示器生產(chǎn)測(cè)試的解決方案，標(biāo)準(zhǔn)顯示測(cè)試，測(cè)試µ-LED晶圓（或小型顯示器），亞像素表征（µ-LED，OLED），缺陷像素評(píng)估，在線(xiàn)µ-LED（-OLED）測(cè)試等內(nèi)容。

報(bào)告顯示，µ-LEDs可能是破壞性的顯示技術(shù)，µ-LED晶圓測(cè)試需要基于相機(jī)的測(cè)量概念，以實(shí)現(xiàn)合理的生產(chǎn)節(jié)拍時(shí)間。卓越的µ-LED技術(shù)需要高性能和極高分辨率的LMD才能進(jìn)行快速生產(chǎn)測(cè)試，亞像素評(píng)估和校準(zhǔn)需要復(fù)雜的算法和分析工具。

 

（內(nèi)容根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)資料整理，如有出入敬請(qǐng)諒解）