11月26日上午,“Micro-LED與其他新型顯示技術(shù)”分會(huì)如期召開。本屆分會(huì)由山西中科潞安紫外光電科技有限公司、華燦光電股份有限公司、德國(guó)愛思強(qiáng)股份有限公司、北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司協(xié)辦。
法國(guó)原子能委員會(huì)電子與信息技術(shù)實(shí)驗(yàn)室研究主任Francois TEMPLIER,北京大學(xué)教授陳志忠,德國(guó)ALLOS Semiconductors首席技術(shù)官Atsushi NISHIKAWA,美國(guó)Lumiode, Inc.創(chuàng)立者兼總裁Vincent LEE,北方華創(chuàng)PVD事業(yè)部LED產(chǎn)品經(jīng)理郭冰亮,和蓮光電科技股份有限公司董事長(zhǎng)邰中和,南京大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院副院長(zhǎng)、教授劉斌,德國(guó)Instrument Systems optische Messtechnik GmbH的Tobias STEINEL等來(lái)自中外的強(qiáng)勢(shì)力量聯(lián)袂帶來(lái)精彩報(bào)告。
北京大學(xué)教授陳志忠做了題為“針對(duì)每平方厘米kW級(jí)別的高功率microLED三維熱量傳輸研究”的主題報(bào)告,報(bào)告指出,在藍(lán)寶石和GaN襯底上制造了不同尺寸的mLED。 通過正向電壓法,熱瞬態(tài)測(cè)量和紅外熱成像研究了mLED的3D熱特性。在電流注入水平為4 kA / cm2的情況下,GaN襯底上的mLED的結(jié)溫比藍(lán)寶石襯底上的mLED低約10oC,K因子的幅度較小。 紅外熱成像結(jié)果表明,溫度均勻分布在GaN襯底上。熱瞬態(tài)測(cè)量表明,GaN襯底上的mLED的臺(tái)面,外延層和GaN /襯底界面的熱阻顯著降低。這意味著高質(zhì)量的GaN晶體和均勻的界面對(duì)應(yīng)于聲子的很少散射。結(jié)合了GaN基板的小型mLED可以成為高亮度顯示和可見光通信的理想選擇。
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