5月10日,從中國科學技術大學獲悉,該校郭光燦院士團隊郭國平、曹剛等人與本源量子計算有限公司合作,利用微波超導諧振腔實現了對半導體雙量子點的激發能譜測量。相關研究成果日前發表在國際應用物理知名期刊《應用物理評論》上。
半導體系統具有良好的可擴展可集成特性,被認為是最有可能實現通用量子計算的體系之一。近年來硅基半導體量子計算取得系列進展,量子比特性能得到大幅提升,單比特和兩比特邏輯門保真度均已達到容錯量子計算閾值,如何進一步擴展比特數量、提高比特讀取保真度成為該領域的重要議題。
電路量子電動力學以微波光子為媒介,不僅可以用來實現比特間長程耦合,還可以用于對比特的非破壞性、高靈敏探測,是量子比特擴展和讀出的一種重要方案。研究人員制備了鈮鈦氮微波諧振腔—半導體量子點復合器件,利用鈮鈦氮的高阻抗特性,大幅提高了微波諧振腔與量子比特的耦合強度,達到強耦合區間。進一步通過在器件上施加方波脈沖,驅動電子在量子點的不同能級間躍遷,并利用高靈敏微波諧振腔讀取出了躍遷信號。利用該技術,課題組表征了雙量子點系統的能級譜圖,特別是利用信號對不同能級的響應特性,給出了系統的自旋態占據信息。
該成果利用微波諧振腔對量子比特能級譜和自旋態進行高靈敏測量,為將來實現半導體量子比特的高保真讀出提供了一種有效方法。